"Meydenbauer – Busch – Pioniere der Photogrammetrie"

Ausstellung: 8. Oktober 2022 bis 29. Januar 2023

Sonderausstellung in Kooperation mit dem Optik Industrie Museum Rathenow

Die Ausstellung ist Albrecht Meydenbauer und Emil Busch, den Pionieren der Photogrammetrie gewidmet und wurde anlässlich Meydenbauers 100sten Todestags 2021 vom Optik Industrie Museum Rathenow, Kulturzentrum Rathenow konzipiert.

Sie ist nun im Stadtmuseum Wetzlar als weiterer Station zu sehen. Die Verbindung zu Wetzlar erklärt sich aus Meydenbauers Arbeiten am Wetzlarer Dom, die zu seiner Idee und Entwicklung der Photogrammetrie führten.

Meydenbauers Nachlass wird im Historischen Archiv Wetzlar verwahrt. Der Rathenower Unternehmer und Optiker Emil Busch (1820-1888) entwickelte in seinem Unternehmen den Typus eines Weitwinkelobjektivs, der die ingenieurtechnische Voraussetzung für den Bau der Meßbildkamera Albrecht Meydenbauers bot.

Die sechsteilige Reihe der "Pantoskope" brachte Busch 1866 zusammen mit zugehörigen Kameras auf den Markt. Erste praktische Versuche zur Verwendbarkeit der Photographie für ingenieurtechnische Aufnahmen erfolgten in Freyburg (Unstrut). In der Folge erfuhr die Terrain- und Architektur-Photographie zu wissenschaftlichen und künstlerischen Zwecken breitere öffentliche Aufmerksamkeit.

Thematische Schwerpunkte der Ausstellung sind: Leben und Wirken Albrecht Meydenbauers; die Entwicklung der Photogrammetrie als wissenschaftlicher Messmethode; die Weitwinkelobjektive der Reihe "Pantoscop" von Emil Busch in Rathenow, ingenieurtechnische Voraussetzung für den Bau der Kameras, Meydenbauer-Aufnahmen im Dienst der Denkmalpflege an ausgewählten Beispielen in Berlin, Freyburg (Unstrut) und Hessen. Letztere gehören zum historischen Erbe Meydenbauers im Bestand des Brandenburgischen Landesamtes für Denkmalpflege.

Zu sehen sind Messbildfotografien, Fotografien, Archivalien von Albrecht Meydenbauer und Emil Busch sowie ein von ihm entwickeltes innovatives Weitwinkelobjektiv aus der Reihe der für die Ergebnisse der Photogrammetrie maßgeblichen "Pantoskope".